| kacra99 |
Verfasst am: 24. Jun 2020 09:50 Titel: Interferenzmuster an einer CD |
|
Meine Frage: Hallo, wir mussten mit Hilfe eines Interferenzmusters den Rillenabstand einer CD bestimmen. Dazu haben wir einen Laserpointer parallel zu einem Schirm positioniert und eine CD im 45° Winkel zum Laserpointer aufgestellt. Durch die Beugung am reflektierten Gitter könnten wir auf dem Schirm ein Interferenzmuster erkennen. Die Abstände der Beugungsmaxima d sowie der Abstand zwischen dem Laserpointer und dem Schirm l sind bekannt. Daraus konnten wir über arctan(d/l) die Beugungswinkel teta ermitteln. Über sin(teta) läse sich dann der Phasenunterschied der Strahlen bestimmen. Die Auftragung von der Beugungsordung in Abhängigkeit zum Phasenunterschied (sin(teta)) bildet eine Gerade, dessen Steigung dem Rillenabstand entspricht. Da die CD aber im 45° =alpha Winkel ausgerichtet ist. Soll Die Beugungsordnung über den Ausdruck [sin(alpha+teta)-sin(alpha)] aufgetragen werden. Dies soll ich nun Herleiten und haben keine Idee wie ich darauf kommen soll.
Meine Ideen: betrachtet werden zwei parallel auf die CD treffende Strahlen A und B. Da die CD im 45° Winkel ausgerichtet ist. trift A früher auf die CD als B hier entsteht ein erster Phasenunterschied um - meiner Meinung nach - sin(alpha). Die beiden strahlen werden näherungsweise parallel reflektiert und treffen sich in einem Punkt auf dem Schirm, wo sie Interferieren. da d<<l ist lässt sich der Phasenunterschied durch sin(teta) beschreiben. Der reflektierte Strahl A ist länger als der reflektierte Strahl B. Aus diesem Grund komme ich immer wieder darauf, dass ich die Beugungsordnung über sin(teta)-sin(alpha) auftragen müsste. Den Ausdruck [sin(alpha+teta)-sin(alpha)] habe ich von meinem Prof bekommen. Dies wird dann denke ich richtig sein. Vielleicht kann mir jemand helfen, meinen Fehler zu finden. |
|